Тонкие диэлектрические пленки представляют собой слои слабо проводящего ток материала толщиной от нанометра до нескольких микрон и применяются во всех оптических устройствах — от специализированных, таких как спектрометры, до потребительских — камеры мобильных телефонов. Новая техника измерения оптической толщины таких покрытий позволит быстрее и тщательнее изучать свойства пленок, что усовершенствует процесс их изготовления.
Работа выполнена специалистами подведомственных Минобрнауки России Научно-технологического центра уникального приборостроения (НТЦ УП) РАН и Института ядерной физики имени Г. И. Будкера Сибирского отделения РАН.
Подробнее на сайте Минобрнауки: https://minobrnauki.gov.ru/press-center/news/nauka/66522/?lang=ru
