Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Научно-технологический центр уникального приборостроения Российской академии наук

Исследование образца манганита лантана

Получены изображения образца манганита лантана с помощью аппаратно-программного комплекса для исследования электрофизических параметров объектов с высоким пространственным разрешением. Хорошо различима поликристаллическая структура поверхности зернёного типа, с крупными линейными структурами сгруппированных зерен, возможно как следствие обработки поверхности, следствие воздействия пресса или последствие дислокационных выходов при кристаллизации. Поверхность имеет невысокую шероховатость на 30х30 мкм до 180 нм, локально на участке 5х5 мкм до 56 нм. Доменная структура не обнаружена, возможно образец не обладает доменной структурой при данной температуре, либо находится в намагниченном состоянии.

Возможно изучение методами АСМ: топографии и доменной структуры при фазовом переходе через точку Кюри, а так же изучение локального сопротивления во внешнем магнитном поле образцов с различными параметрами кристаллизационного отжига.

Прибор:

NTEGRA (NT-MDT)

Метод:

Топография — Атомно-силовая микроскопия • полуконтактный метод

Информация о используемом кантилевере:

 

 

 

 

 

 

Серия

кантил

евера

Длина

балки,

L±10m

км

Ширин

а

балки,

W±7.5

мкм

Толщи

на

балки,

Т±1.0м

км

Резонансная частота, кГц Силовая константа, Н/м
min typical max min typical max
NSG10 125 27 2.75 140 240 390 3.1 11.8 37.6

Описание образца:

Черное вещество, толщиной около 2мм, диаметром около 5мм. Представляет из себя поликристалл. Получен путем кристаллизационного отжига порошка. Манганиты- вещества на основе марганца, представители класса окислов переходных металлов. Как правило обладают высоким магнетосопротивлением (уменьшение сопротивления при подаче магнитного поля).

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Площадь 899 мкм* мкм

Минимум -695 нм

Максимум 991 нм

Peak-to-peak 1687 нм

Среднее квадратичное, RMS 231 нм

Шероховатость 181 нм

 

 

 

 

 

 

Площадь 899 мкм* мкм

Минимум -695 нм

Максимум 991 нм

Peak-to-peak 1687 нм

Среднее квадратичное, RMS 231 нм

Шероховатость 181 нм

 

 

 

 

 

 

 

 

Площадь 30 мкм* мкм

Минимум -260 нм

Максимум 255 нм

Peak-to-peak 516 нм

Среднее квадратичное, RMS 70 нм

Шероховатость 56 нм

 

 

 

 

 

 

 

Площадь 30 мкм* мкм

Минимум -260 нм

Максимум 255 нм

Peak-to-peak 516 нм

Среднее квадратичное, RMS  70 нм

Шероховатость 56 нм

 

Измерения проводились сотрудниками Лаборатории наноградиентной оптики, магнитных материалов и структур.

Оператор комплеска: аспирант НТЦ УП РАН Лутовинов Александр