Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Научно-технологический центр уникального приборостроения Российской академии наук

Высоких Юрий Евгеньевич

Отдел: Отдел акустооптических информационных систем

Лаборатория: Лаборатория наноградиентной оптики, магнитных материалов и структур

Должность: Младший научный сотрудник

 

 

 

Образование:

2006 — Национальный исследовательский университет «Московский институт электронной техники», факультет Электроники и компьютерных технологий (ЭКТ), Специальность: Микроэлектроника и твердотельная электроника

Второе высшее: Институт международного бизнес образования (ИМБО) г Москва, специальность «менеджмент»

Научные интересы, направления исследований:

Магнитооптика высокого разрешения, ближнепольная микроскопия, атомно-силовая микроскопия, магнитно-силовая микроскопия, ферромагнетики.

Основные публикации:

  1. Ю.Е. Высоких, А.В. Шелаев, В.И. Шевяков, А.Р. Прокопов, А.Н. Белов, и С.Ю. Краснобородько. Исследование особенностей функционирования магнитооптического метода в составе магнитно- силовой микроскопии // Российские нанотехнологии. — 2016. — Т. 11. – Вып. 11–12. — С. 104–108.
  2. Yu.E. Vysokikh, A.V. Shelaev, V.I. Shevyakov, A.R. Prokopov, A.N. Belov, и S.Y. Krasnoborod’ko. Study of functioning of the magneto-optical method as part of magnetic force microscopy // Nanotechnologies in Russia. – 2016. — Т. 11. — Вып. 11–12. — С. 815–819 (Web of Science, Scopus).
  3. Y.E. Vysokikh, A.V. Shelaev, A.R. Prokopov, V.I. Shevyakov, и S.Y. Krasnoborodko. Magnetic domain structure investigation of Bi: YIG-thin films by combination of AFM and cantilever-based aperture SNOM // Journal of Physics: Conference Series. – 2016. — Т. 741. Вып. 1. — С. 12190 (Scopus).
  4. Y.E. Vysokikh, V.I. Shevyakov, A.N. Shaposhnikov, A.R. Prokopov, и A.V. Shelaev, «Integration of scanning near field polarization optical microscopy and atomic force microscopy for investigation of magnetic and ferroelectric materials // IEEE Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering (EIConRus). — 2017. — С. 1445–1448 (Web of Science, Scopus).
  5. Y.E. Vysokikh, A.N. Shaposhnikov, A.R. Prokopov, V.N. Berzhansky, A.V. Karavainikov, N.N. Gerasimenko, и D.I. Smirnov, «Magneto-optical, Structural and Surface Properties of RIB Sputtered (Bi,Ga)- substituted DyIG films // Materials Research Bulletin. – 2017. — Т. 95. — С. 115 — 122 (Web of Science, Scopus).
  6. Высоких Ю.Е., Краснобородько С.Ю., Шевяков В.И., Бержанский В.Н., Михайлова Т.В., Шапошников А.Н, Прокопов А.Р., Недвига А.С. Магнитно-силовая микроскопия доменной структуры феррит-гранатовых пленок — носителей термомагнитной записи // Известия вузов. Электроника. — 2017. – Т.22. — №6. — С 596 — 601 (ВАК).
  7. S Yu Krasnoborodko, Yu E Vysokikh, M F Bulatov, D V Churikov and V I Shevyakov, Scanning probe microscopy cantilevers improvement for advanced research and manipulation at nano scale, IOP Conf. Series: Journal of Physics: Conf. Series 1461 (2020) 012190 doi:10.1088/1742-6596/1461/1/012190 (Scopus).
  8. Yu. Krasnoborodko, Yu.E. Vysokikh, S.A. Smagulova, M.F. Bulatov, D.V. Churikov, and V.I. Shevyakov, Defocused Ion Beam Etching of the Silicon Probes for High Resolution Atomic-force Microscopy, 2019 PhotonIcs & Electromagnetics Research Symposium — Spring (PIERS-Spring), Rome, Italy, 2019, pp. 1063-1066, doi: 10.1109/PIERS-Spring46901.2019.9017274 (Scopus).
  9. E. Vysokikh, S.Yu. Krasnoborodko, T.V. Mikhailova, A.N. Shaposhnikov, M.F. Bulatov, and D.V. Churikov, High Resolution Magneto-optical Microscopy of Bi:YIG-thin Films with Both Domains and Topography Characterization, 2019 PhotonIcs & Electromagnetics Research Symposium — Spring (PIERS-Spring), Rome, Italy, 2019, pp. 1607-1611, doi: 10.1109/PIERS-Spring46901.2019.9017483 (Scopus).
  10. «Yu E Vysokikh, S Yu Krasnoborodko, A S Kolomiytsev, A A Fedotov, A N Shaposhnikov, M F Bulatov, D V Churikov, V I Shevyakov, Advanced aperture cantilevers made by focused ion beam for both magnetic domain structure and morphology investigation in high resolution magneto optical microscopy, Journal of Physics: Conference Series 1410 (2019) 012187, doi:10.1088/1742-6596/1410/1/012187 (Scopus).
  11. Yu E Vysokikh, S Yu Krasnoborodko, Y V Danishevskaya, T V Mikhailova, A S Nedviga, V N Berzhansky, M F Bulatov, D V Churikov, Magnetic-force microscopy of thin Bi:IG films for thermomagnetic recording, Journal of Physics: Conference Series 1410 (2019) 012224 doi:10.1088/1742-6596/1410/1/012224 (Scopus).
  12. A N Shaposhnikov, S D Lyashko, A S Nedviga, A V Karavainikov, E Yu Semuk, Yu E Vysokikh and T V Mikhailova, Scanning probe microscopy investigation of iron garnet films for magnetoplasmonics, IOP Conf. Series: Materials Science and Engineering 699 (2019) 012043, doi:10.1088/1757-899X/699/1/012043 (Scopus).
  13. «T V Mikhailova, Yu E Vysokikh, S Yu Krasnoborodko, A S Kolomiytsev and A A Fedotov, Light polarization and intensity behaviour in aperture cantilevers with carbon tip created by focused ion beam, IOP Conf. Series: Materials Science and Engineering 699 (2019) 012030, doi:10.1088/1757-899X/699/1/012030 (Scopus).

E-mail: vysokih.ye@ntcup.ru

Телефон: