Компактный 3D сканирующий лазерный Рамановский микроскоп

Наименование

Назначение

Широкие возможности, высокая надежность и компактность конфокальных микроскопов позволяют использовать их для решения широкого круга научных и промышленных задач. Объектами для комплексных исследований могут быть полупроводники, жидкие кристаллы, полимеры, фармацевтические и биологические вещества, одиночные молекулы и наночастицы.

Разработчик / изготовитель

Наименование, контактная информация, логотип

SOL Instruments (Республика Беларусь)

Контакты официальных представителей в РФ: info@mteon.ru , +7 (499) 390-90-81

Технические характеристики

Пространственное разрешение

Лазер	Объектив: увеличение и числовая апертура NA	Пространственное разрешение по XY*	Аксиальное разрешение по Z*
473 нм	100x, NA = 0.95	390 нм	550 нм
532 нм	100x, NA = 0.95	440 нм	620 нм
633 нм	100x, NA = 0.95	520 нм	730 нм
785 нм	100x, NA = 0.95	650 нм	910 нм

* Конфигурация с улучшенным пространственным разрешением и регулируемой конфокальной диафрагмой доступна по запросу.

Спектральные характеристики

Спектральный диапазон регистрации Рамановских сигналов:	60 сm^-1 ～ 12000 сm^-1 (зависит от длины волны лазера возбуждения)
Спектральное разрешение:	не менее 0.145 см^-1 (решётка 75 штр/мм Эшелле) модель Confotec™ MR520
Режимы сканирования
· Сканирование лазерного луча по поверхности неподвижного образца с помощью XY гальваносканнера и пьезо – Z сканнера и регистрация конфокальных 2D и 3D рамановских изображений с помощью цифровой скорост-ной ПЗС камеры с получением полного спектра в каждой точке. · Построение 2D и 3D рамановских изображений с высокой скоростью (Fast mapping: 3 сек/кадр 1001 х 1001 точек) с помощью высокоскоростного ФЭУ для спектральных измерений совместно с гальвано- и Z-сканнером · Построение 2D и 3D изображений с высокой скоростью (Fast mapping: 3 сек/кадр 1001 х 1001 точек) с использованием в качестве отклика Релеевского рассеяния образца благодаря применению узла регистрации отражён-ного излучения (Reflected Unit) совместно с гальвано- и Z-сканнером · Комбинированный режим для получения панорамных Рамановские изображений и изображений образца в отраженном лазерном свете с высокой скоростью и высоким пространственным разрешением благодаря применению высокоскоростного ФЭУ для спектральных измерений и узла регистрации отражённого излучения (Reflected Unit) совместно с гальваносканнером и автоматизированным столом микроскопа

Дополнительное описание

— Модульный принцип построения: основной Рамановский оптический модуль с встроенным лазером крепится к микроскопу, а спектрограф подсоединяется с помощью оптического световода и может быть произвольно расположен на рабочем столе оператора

— Жёсткий, не требующий подъюстировок дизайн обеспечивает высокую температурную и временную стабильность спектральных измерений

— Неразрушающий анализ, не требующий подготовки проб

— Использование двух автоматически переключаемых лазеров с разными длинами волн позволяет расширить круг типов образцов для Рамановских измерений и минимизировать влияние флуоресценции

— Спектральные измерения обеспечиваются высокоэффективным автоматизированным Imaging монохроматором-спектрографом с фокусным расстоянием 350, 520 или 750 мм с автоматизированной турелью для установки четырёх дифракционных решеток

— При конфокальном методе измерения глубина резкости пространственного изображения ограничена и в фокусе находятся только некоторые области измеряемой плоскости. Наличие скоростного “reflection” модуля позволяет быстро найти сфокусированные области образца и использовать их в дальнейшем для Рамановских измерений. Это дает существенный выигрыш во времени и позволяет сразу применить высокоапертурный объектив для получения Рамановского изображения с высоким пространственным разрешением

— Одновременное построение Рамановских изображений и изображения образца в отраженном лазерном свете с высокой скоростью благодаря применению “reflection” модуля и высокоскоростного ФЭУ для спектральных измерений совместно с гальваносканнером X-Y

— Совместное использование гальваносканера X-Y с автоматизированным столом позволяет получать изображения больших размеров – панорамные Рамановские изображения и панорамные изображения образца в отраженном лазерном свете с высоким пространственным разрешением и высокой скоростью

— Использование пьезо-Z подвижки микрообектива совместно с гальваносканнером X-Y позволяет производить 2D и 3D Рамановское картирование поверхности образца

— Автоматическая калибровка спектров

Область использования

Материаловедение, Нанотехнологии, Биотехнологии, Полупроводниковая промышленность

https://solinstruments.com/ru/analysis/microscopy/confotec-mr/description

Описание в PDF