Расписание занятий в аспирантуре НТЦ УП

Весенний семестр 2017 г.

Дата 11:00 – 12:35 12:50 – 14:25
Оптика

(В.И. Батшев)

Физические методы исследования состава и структуры веществ

Зинин П.В.

1 18.01 Общая вводная лекция

Основные понятия физической и геометрической оптики. Интерференция, принцип Гюйгенса-Френеля, дифракция. Преломление, отражение. Формирование изображения; принцип Ферма. Идеальная оптическая система (ОС)

2 25.01 Семинар

Построение изображения в идеальной ОС

Лекция: «Методы измерения пространственного распределения температуры и излучательной способности»

(Мантрова Ю.)

3 01.02 Лекция: «Диафрагмы»

Апертурная, полевая, виньетирующая диафрагма. Входной и выходной зрачки

(Батшев В.И.)

Лекция 1: «Теория ошибок и обработка результатов эксперимента I»

Классификация ошибок измерения, среднее значение, стандартное отклонение, нормальное распределение.

(Зинин П.В.)

4 08.02 Лекция: «Типы ОС»

Объектив, микроскоп, проекционная и телескопическая системы. Их основные характеристики.

(Батшев В.И.)

Лекция 2: «Теория ошибок и обработка результатов эксперимента II»

(Зинин П.В.)

5 15.02 Лекция: «Окуляр, микроскоп»

ОС окуляра; микроскопы их классификация, основные характеристики

(Батшев В.И.)

Семинар:

Расчет экспериментальных ошибок измерения

6 22.02 Лекция: «Качество изображения»

Дифракция. Классификация аберраций ОС. Оценка качества изображения.

(Батшев В.И.)

Лекция 3: Увеличение и разрешение в оптической микроскопии.

(Зинин П.В.)

7 01.03 Лекция: «Объектив, телескопическая система»

ОС фотообъектива и телескопической системы, их классификация, основные характеристики.

(Батшев В.И.)

Семинар

Расчет основных характеристик ОС разных типов

8 15.03 Лекция 4: Фурье оптика и формирование изображений двумерных объектов в конфокальной микроскопии

(Зинин П.В.)

Лекция: «Интерферометрия»

Классификация, основные характеристики и применение интерферометров. Интерферометры Майкельсона, Тваймана-Грина, Физо.

(Батшев В.И.)

9 22.03 Практическое занятие по моделированию ОС
10 29.03 Лекция 5: Фурье оптика и формирование изображений трехмерных объектов в конфокальной микроскопии

(Зинин П.В.)

Семинар: Разрешение оптических приборов в лаборатории, голографических микроскопов и оптических томографах.
11 05.04

Лекция 6: Принципы туннельной и атомно-силовой микроскопии

(Зинин П.В.)

Лекция: «Зеркальные ОС»

Классификация зеркальных ОС. Астрономическая оптика

(Батшев В.И.)

 

12 12.04 Лекция: «Голография»

(Польщикова О.В.)

Лекция: «Оптическая томография»

(Бурмак Л.И.)

Семинар: Самостоятельная работа с научной литературой

13

19.04

Лекция 7: Принципы сканирующей электронной микроскопии (SEM)

(Зинин П.В).

Лекция: «Проектирование ОС»

Основные этапы проектирования, модели ОС,  Анализ, синтез, оптимизация.

(Батшев В.И.)

14 26.04

Лекция 8: Принципы трансмиссионной электронной микроскопии (TEM)

Практическое занятие: Использование акустооптических фильтров  в физических измерениях температуры

15 03.05

Лекция 9: Микроанализ в электронной микроскопии (EDS and EELS)

(Зинин П.В.)

Лекция 10: Типы основы лазеров и основные области их применения

(Ляшенко A. И.)

16 10.05

Экзамен

© НТЦ УП РАН, 2008-2017