Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Научно-технологический центр уникального приборостроения Российской академии наук

Краснобородько Сергей Юрьевич

Отдел: Отдел акустооптических информационных систем

Лаборатория: Лаборатория наноградиентной оптики, магнитных материалов и структур

Должность: научный сотрудник

 

 

 

Образование:

2000 — 2006 – НИУ МИЭТ, специальность Электроника и Микроэлектроника

2006 — 2009 – аспирантура НИУ МИЭТ

Ученая степень:

2014г. – к.т.н. 05.11.13 Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий

Область научных интересов:

Атомно-силовая микроскопия, магнитно-силовая микроскопия, магнитооптика высокого разрешения, ближнепольная поляризационная микроскопия, гетероструктуры, ферромагнетики

Основные публикации:

  1. S Yu Krasnoborodko, Yu E Vysokikh, M F Bulatov, D V Churikov and V I Shevyakov Scanning probe microscopy cantilevers improvement for advanced research and manipulation at nano scale // IOP Conf. Series: Journal of Physics: Conf. Series 1461 (2020) 012190 doi:10.1088/1742-6596/1461/1/012190 (Scopus).
  2. T V Mikhailova, Yu E Vysokikh, S Yu Krasnoborodko, A S Kolomiytsev and A A Fedotov, Light polarization and intensity behaviour in aperture cantilevers with carbon tip created by focused ion beam // IOP Conf. Series: Materials Science and Engineering 699 (2019) 012030 doi:10.1088/1757-899X/699/1/012030 (Scopus).
  3. Vysokikh, S. Krasnoborodko, Y. Danishevskaya, T. Mikhailova, A. Nedviga, V. Berzhansky, M. Bulatov, D. Churikov Magnetic-force microscopy of thin Bi:IG films for thermomagnetic recording // Journal of Physics: Conference Series 1410 (2019) 012224 doi:10.1088/1742-6596/1410/1/012224 (Scopus).
  4. Krasnoborodko, Y. Vysokikh, D. Churikov, M. Bulatov, V. Shevyakov, A. Fedotov, A. Kolomiytsev, A. Shaposhnikov Advanced aperture cantilevers made by focused ion beam for both magnetic domain structure and morphology investigation in high resolution magneto optical microscopy // Journal of Physics: Conference Series 1410 (2019) 012187 (Scopus).
  5. Klimin V.S., Tominov R. V., Eskov A.V., Krasnoborodko S.Y., Ageev O.A. The influence of the chemical and physical component of the plasma etching of the surface of gallium arsenide on the etching rate in the chloride plasma of the combined discharge // Journal of Physics: Conference Series – 2017 – V.917 – p. 092005; (Scopus).
  6. С.Ю. Краснобородько, Ю.Е. Высоких, В.И. Шевяков, В.Н. Бержанский, Т.В. Михайлова, А.Н. Шапошников, А.Р. Прокопов, А.С. Недвига. Магнитно-силовая микроскопия доменной структуры феррит-гранатовых пленок — носителей термомагнитной записи // Известия высших учебных заведений. Электроника. Том 22, №6, 2017, С 596 – 601 (ВАК)
  7. A. Ageev, S.V. Balakirev, Al.V. Bykov, E.Yu. Gusev, A.A. Fedotov, J.Y. Jityaeva, O.I. Il’in, M.V. Il’ina, A.S. Kolomiytsev, B.G. Konoplev, S.U. Krasnoborodko, V.V. Polyakov, V.A. Smirnov, M.S. Solodovnik, E.G. Zamburg. Development of new metamaterials for advanced element base of micro- and nanoelectronics, and microsystem devices. Chapter In: Advanced Materials – Manufacturing, Physics, Mechanics and Applications. Parinov, Ivan A., Chang, Shun-Hsyung, Topolov, Vitaly Yu. (Eds.) // Springer Proceedings in Physics, № 1, 2016, V.175 – pp. 563-580. (Scopus).
  8. S. Yu. Krasnoborodko, Yu. E. Vysokikh, A. V. Shelaev, V. I. Shevyakov, A. R. Prokopov, A. N. Belov. Study of Functioning of the Magneto-Optical Method as Partof Magnetic Force Microscopy // NANOTECHNOLOGIES IN RUSSIA, Vol. 11, Nos. 11–12, 2016. J. of Physics: Conference Series (Web of Science)
  9. A. Ageev, V.S. Klimin, M.S. Solodovnik, A.V. Eskov, S.Y. Krasnoborodko. The study of influence of the gas flow rate to etched layer thickness and roughness of the anisotropy field of gallium arsenide is etched in the plasma chemical etching process // Journal of Physics: Conference Series 741 (2016) V.741 №1 – p. 012178. (Scopus).
  10. Yu. Krasnoborodko, Yu. E. Vysokikh, A. V. Shelaev, V. I. Shevyakov, A. R. Prokopov. Magnetic domain structure investigation of Bi: YIG-thin films by combination of AFM and cantilever-based aperture SNOM // Journal of Physics: Conference Series 741 (2016) 012190. (Scopus).
  11. Ю. Краснобородько, В.А. Смирнов, В.И. Авилов, Л.Р. Саубанова, М.С. Солодовник, В.В. Полякова, О.Г. Цуканова. Профилирование эпитаксиальных слоев арсенида галлия методом локального анодного окисления // Известия высших учебных заведений. Технические науки, № 9, 2015, с. 84-93. (ВАК)
  12. Yu. Krasnoborodko, S. P. Antonov, S. A. Smagulova, Y. A. Chaplygin, V. I. Shevyakov. Modification of cantilevers for atomic-force microscopy using the method of exposure defocused ion beam// Proc. SPIE 9440, International Conference on Micro- and Nano-Electronics 2014, 94400O (18 December 2014). (Scopus).
  13. Ю. Краснобородько, А.А. Тихомиров, В.И. Шевяков. Методика проведения измерений в полуконтактной моде атомно-силовой микроскопии // Известия высших учебных заведений. Электроника, № 4, 2013, с. 94-95. (ВАК)
  14. Ю. Краснобородько, В.М. Рощин, М.В. Силибин, В.И. Шевяков. Возможности импульсного плазменного осаждения для создания кантилеверов магнитной силовой микроскопии // Химическая физика и мезоскопия, Том 13, № 3, 2011, с. 444-447. (ВАК)
  15. S.Y. Krasnoborodko, A. M. Alekseev, V. N. Komkov, A. B. Shubin. Peculiarities of Three_Passage Measurements in Magnetic Force Microscopy // Russian Microelectronics, 2011, V. 40, № 7, pp. 529–532.
  16. С.Ю. Краснобородько, А.М. Алексеев, В.Н. Комков, В.И. Шевяков, А.Б. Шубин. Особенности методики трехпроходных измерений в магнитной силовой микроскопии // Известия высших учебных заведений. Электроника, № 6, 2010, с. 63-65. (ВАК)
  17. С.Ю. Краснобородько. Исследование особенностей проведения измерений на основе магнитно — силовой микроскопии // Перспективные материалы, спец. выпуск, 2008, труды XIX Международной конференции. “Материалы с особыми физическими свойствами и магнитные системы”, г. Суздаль, с. 217-222. (ВАК)
  18. С.Ю. Краснобородько, А.И. Галушков, И.В. Годовицын, А.Н. Сауров, В.И. Шевяков. Исследование сложнопрофильных микрообъектов методами атомной силовой микроскопии // Известия высших учебных заведений. Электроника, № 1, 2007, с. 83-84. (ВАК)
  19. С.Ю. Краснобородько, А.И. Галушков, И.В. Годовицын, А.А. Тихомиров. Исследование конструктивно-технологических параметров интегрального емкостного преобразователя давления // Нано- и микросистемная техника, № 9, 2007, с. 44-46. (ВАК)
  20. Ю. Краснобородько, В.И. Шевяков, А.Б. Шубин. Методика экспериментального определения магнитных свойств нанообъектов на основе 3-х проходных измерений в магнитно- силовой микроскопии // Российский научно-техн. центр информации по стандартизации, метрологии и оценке соответствия. М., 2010. – 18с. (ГССД № МЭ 157-2010).
  21. Ю. Краснобородько, А.Н. Белов, С.А. Гаврилов, В.И. Шевяков. Методика измерения прогиба сложнопрофильных микро- и наномембранных структур на основе атомно- силовой микроскопии // Российский научно-техн. центр информации по стандартизации, метрологии и оценке соответствия. М., 2008. – 17с. (ГССД № МЭ 142-2008).
  22. С.Ю. Краснобородько, А.Н. Белов, А.Т. Берестов, С.А. Гаврилов, В.И. Шевяков. Методика определения толщины сверхтонких пленок на основе атомной силовой микроскопии // Российский научно-техн. центр информации по стандартизации, метрологии и оценке соответствия. М., 2008. – 21с. (ГССД № МЭ 141-2008).

Scopus Author ID:

57191862733

E-mail:

krasnoborodko.sy@ntcup.ru